For comments, suggestions
Created with Raphaël 2.1.0 27.12.2017 Examinarea formala (atribuirea datei de depozit) 15.01.2018 Examinarea preliminara 20.04.2018 Constituirea depozitului national reglementar 20.04.2018 Examinarea conditiilor pentru acordarea BISD 31.07.2018 Publicarea hot. de acordare (Y) 31.01.2019 Finalizarea perioadei de depunere a opozitiilor 28.02.2019 Eliberarea brevetului (Z) 27.12.2022 Valabil pana la 09.06.2023 27.12.2023 Data expirarii brevetului

Brevet valabil


(11)Numarul documentului1269
(21)Numarul depozituluis 2017 0139
(22)Data depozitului2017.12.27
(71)Numele sau denumirea solicitantului (solicitanţilor), codul ţăriiUNIVERSITATEA TEHNICĂ A MOLDOVEI, MD;
(72)Numele inventatorului (inventatorilor), codul ţăriiVERJBIŢKI Valeri, MD; LUPAN Oleg, MD; RAILEAN Serghei, MD;
(73)Numele sau denumirea titularului (titularilor), codul ţăriiUNIVERSITATEA TEHNICĂ A MOLDOVEI, MD;
(54)Titlul inventiei Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorului pe bază de oxizi semiconductor i nanostructur aţi în diapazon de ordinul microwaţilor
(13)Codul documentuluiZ
(51)Clasificarea Internationala de Brevete G01R 31/26 (2006.01); G01R 31/27 (2006.01); B82Y 35/00 (2011.01);
(19)TaraMD
(45)Data publicarii hotararii de acordare a brevetului2018.07.31
(47)Data eliberării brevetului2019.02.28
 Examinator(i) la examinarea de fondGHIŢU Irina jr.
 S-a achitat mentinerea pana la data:2022.12.27
 Statutul cererii/brevetuluiBrevet valabil
Up
/inventions/Details.aspx?id=s%202017%200139