For comments, suggestions
Created with Raphaël 2.1.0 27.12.2017 Examinarea formala (atribuirea datei de depozit) 15.01.2018 Examinarea preliminara 20.04.2018 Constituirea depozitului national reglementar 20.04.2018 Examinarea conditiilor pentru acordarea BISD 31.07.2018 Publicarea hot. de acordare (Y) 31.01.2019 Finalizarea perioadei de depunere a opozitiilor 28.02.2019 Eliberarea brevetului (Z) 27.12.2022 Valabil pana la 30.09.2023 Publicarea hot. de decadere, cu dreptul de restabilire

Brevet nevalabil


(11)Numarul documentului1269
(21)Numarul depozituluis 2017 0139
(22)Data depozitului2017.12.27
(71)Numele sau denumirea solicitantului (solicitanţilor), codul ţăriiUNIVERSITATEA TEHNICĂ A MOLDOVEI, MD;
(72)Numele inventatorului (inventatorilor), codul ţăriiVERJBIŢKI Valeri, MD; LUPAN Oleg, MD; RAILEAN Serghei, MD;
(73)Numele sau denumirea titularului (titularilor), codul ţăriiUNIVERSITATEA TEHNICĂ A MOLDOVEI, MD;
(54)Titlul inventieiDispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor
(13)Codul documentului
Z, BOPI 02/2019
Y, BOPI 07/2018
(51)Clasificarea Internationala de Brevete G01R 31/26 (2006.01); G01R 31/27 (2006.01); B82Y 35/00 (2011.01);
(19)TaraMD
(45)Data publicarii hotararii de acordare a brevetului2018.07.31
(47)Data eliberării brevetului2019.02.28
 Examinator(i) la examinarea de fondGHIŢU Irina jr.
 S-a achitat mentinerea pana la data:2022.12.27
 Data decăderii din drepturi2022.12.27
 Publicarea menţiunii de încetare a valabilităţii cu dreptul de restabilire, în buletinul din2023.09.30
 Statutul cererii/brevetuluiBrevet nevalabil
Up
/inventions/Details.aspx?id=s%202017%200139